感应线圈激发检查法是对检查对象物进行检查时，利用感应线圈对导体金属进行非接触加热 后，红外热像仪将金属温度下降过程中，完好区和缺陷区发生的温度变化和时间位相滞后图像化, 从而对缺陷进行检测的方法。感应线圈激发无损检测有透射法和反射法两种方法。透射法是红外 热像仪与感应线圈安装在检查对象物的两侧，利用检查对象物内部产生的、传导到检查对象物背 面的热量进行缺陷检测的方法。反射法是红外热像仪与感应线圈在检查对象物的同一侧进行缺陷 检测的方法。感应线圈产生的涡电流激发检查对象物，使检查对象物温度升高。同时在检查对象 物表面产生同心圆状的均匀磁场。如果检查对象物表面有裂纹，同心圆状的均匀磁场就会绕过裂 纹，形成磁场混乱的磁力线疏密差，从而发生检查对象物表面温度的不均匀分布。红外热像仪根 据温度的不均匀分布检测出裂纹等缺陷。
